Reuters dẫn tin từ một quan chức của Bộ Tư pháp Mỹ cho biết, Juan Tang, nhà khoa học Trung Quốc gian lận thị thực trốn trong lãnh sự quán San Francisco, đã bị bắt vào tối 23/7.

Theo hồ sơ Cục Điều tra Liên bang Mỹ (FBI) trình lên tòa án tại San Francisco trong tuần này, Juan Tang, người làm việc ở Đại học California, đã khai gian trong đơn xin thị thực Mỹ rằng cô chưa từng phục vụ trong quân đội Trung Quốc. Tuy nhiên, các nhà điều tra đã tìm thấy những bức ảnh chụp Juan trong bộ quân phục Trung Quốc và phát hiện ra cô từng làm nghiên cứu tại Đại học Quân y Không quân Trung Quốc.

FBI đã thẩm vấn Juan vào ngày 20/6, sau đó cô đến lãnh sự quán Trung Quốc tại San Francisco. FBI nghi cơ quan ngoại giao này đã chứa chấp cô. Juan bị truy tố tội gian lận thị thực vào ngày 26/6.

Một quan chức của Bộ Tư pháp Mỹ nói với các phóng viên rằng Juan đã bị bắt giam vào tối 23/7. Juan không có quyền miễn trừ ngoại giao vì cô không được tuyên bố là quan chức ngoại giao.

“Cô ấy sẽ hầu tòa lần đầu vào ngày hôm nay”, vị quan chức nói hôm 24/7, đồng thời cáo buộc rằng Juan là một phần trong mạng lưới cố ý che giấu quan hệ với quân đội Trung Quốc khi xin thị thực Mỹ.

Đại sứ quán Trung Quốc chưa bình luận về vụ việc.

Hôm 23/7, Bộ Tư pháp Mỹ cho biết, ngoài Juan, họ đã truy tố 3 nhà khoa học Trung Quốc khác vì che giấu quan hệ với quân đội để xin thị thực tới Mỹ dễ dàng hơn. Trong khi đó, FBI cũng đã thẩm vấn những người sở hữu thị thực Mỹ, bị nghi che giấu quan hệ với quân đội Trung Quốc, tại 25 thành phố. Một quan chức của Bộ Tư pháp cho rằng việc khai gian thị thực nằm trong kế hoạch của chính quyền Trung Quốc nhằm lợi dụng xã hội mở cửa và khai thác các tổ chức học thuật của Mỹ.

Từ Khóa: